現(xiàn)在我們開始準(zhǔn)備進(jìn)行光學(xué)檢測。對比數(shù)據(jù)庫中的光譜，大家可以看到來zican留物的光譜和來自鎳區(qū)的光譜它們是wanquan不同的，這個很明顯。但現(xiàn)在的問題是，它是什么？因此，需要改變數(shù)據(jù)庫，比較檢測出的光譜和數(shù)據(jù)庫中的光譜，根據(jù)數(shù)據(jù)庫的信息顯示這主要是鈉。如果大家現(xiàn)在比較這兩個光譜，可以看到這主要是鈉，與鎳基的程序相同。如果你把這兩個放在一起，你會看到，或多或少你從基礎(chǔ)材料中得到的所有峰值，你也會在理論上的鎳或鎳的光譜中找到。因此，很明顯，除了鎳本身，鎳上沒有太多的其他東西，上圖則是比較得出的結(jié)果。

現(xiàn)在，我們詳細(xì)解釋一下這看起來像什么。這是你之前看到的光譜。紅色的是我們的殘留物，綠色的線是數(shù)據(jù)庫根據(jù)理論上反應(yīng)的鈉提供的，這意味著這里只有兩個峰是典型的鈉的峰。大家可以看到周圍沒有太多的其他東西，也就是說表面上是鈉鹽，鈉的濃度相對較高，沒有其他金屬。

另一方面，如果我將其與鎳進(jìn)行比較，組件上的殘留物非常厚，激光無法穿過，沒有看到鎳，這意味著它不能穿過殘留物到達(dá)鎳的位置。對我們來說，這些殘留物的影響是顯著的。根據(jù)這些結(jié)論，我們判斷殘留物是鈉鹽。它可能是氫氧化鈉或碳酸鈉，因?yàn)榉浅：?，激光達(dá)不到鎳。

在這個案例中，我們還可以創(chuàng)建自己的數(shù)據(jù)庫。我們有一個數(shù)據(jù)庫，也就是我們所說的原材料，我們把生產(chǎn)線上使用的所有標(biāo)準(zhǔn)材料放在這里。不管這是化學(xué)材料還是我們工具的材料，我們都可以直接比較，了解我們在零件上發(fā)現(xiàn)的材料或污染是否來自于電鍍過程。

通過觀看視頻大家可以看到，只需點(diǎn)擊幾下，就能獲得結(jié)果，LIBS的檢測速度非?？?，而且樣品的準(zhǔn)備工作很少。同時還發(fā)現(xiàn)可以用它來研究表面以下的區(qū)域。如果我們在一個區(qū)域進(jìn)行激光照射，我們可以穿過電鍍層，然后觀察電鍍層的下面，而不需要制作橫截面。這一點(diǎn)是無法通過例如EDX實(shí)現(xiàn)的，因?yàn)槟阒荒芸吹奖砻妫阈枰鰴M截面才能看到下面的情況。這可以幫助我們確定污染是僅存在于表面，還是已經(jīng)涉及更深處？我們能不能穿過并查看這個層面下一或兩微米處是否有污染？LIBS就適合這樣的工作！

LIBS最大的好處是當(dāng)我們使用顯微鏡觀察一個區(qū)域時，如果看到有異常，便可以立即檢查它是什么。它真的是一種污染嗎？或者只是氧化變色？這是一種將光學(xué)和分析方法相結(jié)合的多功能性。這將會對日常業(yè)務(wù)提供很大的幫助。

正如之前所說，LIBS能帶來很大的優(yōu)勢?？梢詣?chuàng)建自己的數(shù)據(jù)庫，收集環(huán)境中使用的材料并將其存儲至數(shù)據(jù)庫，然后可以把發(fā)現(xiàn)的任何東西與數(shù)據(jù)庫進(jìn)行比較。總而言之，徠卡DM 6M LIBS強(qiáng)大的功能滿足了同時用于開發(fā)、故障排除和根本原因分析等多樣化功能需求！

最后，通過測試，我們發(fā)現(xiàn)，在這些白色區(qū)域上沒有檢測到任何外來金屬。污染物是鈉化合物，這表示那不是工藝中的金屬鹽，也不是電鍍過程中產(chǎn)生的。那一定是我們通常在預(yù)處理中就已經(jīng)存在的。樣品一定是在生產(chǎn)過程中被污染了。

徠卡DM6 M LIBS